TCP高低温测试盒

基于半导体制冷技术，可实现-40℃~140℃宽温区覆盖，变温速率达40℃/min（远超传统温箱的10℃/min），大幅提升测试效率；高效水冷散热，无压缩机制冷振动，独特除霜专利，无需真空和干燥空气，控温精准稳定，可满足微显示屏、晶圆、探测器、摄像头传感器及雷达等等器件的快速高低温可靠性测试需求，是光电芯片与精密传感器研发及量产检测的理想选择。

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